Panametrics 35系列的特性 • 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。 • 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取决于仪器和材料。 • 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。 • 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。 • 手持式，仅重0.24公斤（8.5盎司）。 • 模式 • 高-低报 • 英制和公制显示（英寸或毫米） • 多种语言用户界面 • 长效电池 Panametrics 35型和35DL型 在大多数应用中都可应用35型和35DL型 35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。 应用 • 从薄到厚的大多数材料 • 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材 • 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件 • 汽缸孔、涡轮叶片 • 玻璃灯泡、瓶子 • 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料 • 半径较小的曲面部分或容器 • 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸 Panametrics 35HP型和35DL-HP型 HP测厚仪具有***的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下，使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。 应用 • 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料 • 厚金属铸件 • 厚橡胶轮胎、履带 • 玻璃纤维船体、储罐 • 复合材料板 • 分辨率为0.01毫米或0.001英寸 35HP型测厚仪是测量玻璃纤维和复合材料部件的理想工具，其测量的对象包括对厚度控制有 Panametrics 35系列的其它特性 利用减缩率，可测量金属材料因弯曲而变薄的临界厚度值。 减缩率测量 所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。 可直接显示声速数值的声速测量模式 材料声速测量 所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中，这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度，以及监测复合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺，用于自动传输测量厚度值。 自动调用功能可简化测量操作 自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时，35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。 存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。 存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时，这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置（35型和35HP型可调用10个自定义设置）。 在这种基本应用中不可使用测微计。然而，可以使用配有M208探头的35型仪器，在不损坏玻璃的情况下，进行校准精度达0.001毫米（0.0001英寸）的厚度测量。 超薄钢板（0.10毫米或0.004英寸）的厚度和波形。 为什么使用超声技术？ 利用超声波得到的测量值准确、可靠，并具有可重复性。在材料的另一侧很难接触到且不能使用测微计及其它测量仪进行测量时，使用超声技术，在无需切开或损坏被测材料的情况下，仅从材料的一侧发射声波，即刻就可得到数字测量读数。