HABER-100C X荧光镀层测厚仪 一、应用领域 HABER-100C是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于： 五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析，镀液分析等常规领域。 HABER系列光谱使用领域： 1.镀层测厚 （1）.五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等； （2）.PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等； 二、产品特点 1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测 2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.01um到40um 3、测量时间短，每个测量只需10-60秒 4、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察 5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用 6、大窗口探测器，提高测量稳定性 7、机械结构简单，可靠 8、FP基本算法软件 三、技术指标 高压发生器 输入电压 24VDC±10% 输出电压 0-50kV 输出电流 0-1.0mA 输出精度 0.01% 备注 有自动软件侦测功能 X射线管 X射线管靶材 W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 X射线管窗口 Be窗 电气参数 50W、4-50kV，0-1000uA 冷却方式 硅脂冷却 使用寿命 15000-20000h 探测器 检测范围 AlPPP13PPP-UPPP92PPP 分辨率 FWHM小于760eV 探测窗口 铍窗，窗口面积：400mmPPP2PPP 镀层测厚指标 分析范围 0.01um—40um 谱处理系统 处理器类型 全数字化32-bit3 DSP 谱通道数 256，512，1024，2048可供选择 能量范围 1400eV-40960eV 光路系统和样品观测 准直器系统 单一准直器φ0.2mm 对焦系统 激光对焦系统 样品观察系统 500万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。