品牌：XJTOP

型号：XTOM

测量精度：0.01mm

加工定制：是

类型：工业级高精度

扫描范围：10mm~30m

扫描方式：结构光白光

有效像素：230/600/900万

规格：DIY

系统介绍

XTOM—三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到***水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。

 

应用方向

 行业

汽车行业、航空航天、机械制造、文物修复、家具制造、医疗保健等

  

  

 逆向设计

快速获取被测物体表面三维数据，建立物体三维模型，优化产品设计/还原设计图

 

 产品检测

检测范围包括：产品点、线、面之间角度、距离、对称度及位置度等关系：对比标准共建或设计图分析产品尺寸、角度、厚度及位置偏差等：对比产品使用前后数据分析产品使用损耗，分析产品性能及寿命等。可检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等。

 

 其他应用

 

技术参数

 

常规标准型

 

型号	XTOM-TC	XTOM-ED-I	XTOM-ED-II
测量幅面(mm)	200*150/400*300	200*150/400*300	200*150/400*300
相机像素	2*130w	2*130w	4*230w
测量精度(mm)	0.04	0.025/0.03	0.025~0.03
采样点距(mm)	0.15/0.3	0.1/0.2	0.1~0.2
标准测距(mm)	350/850	450/850	450/850
扫描时间(s)	2~4
扫描光源	蓝/白
拼接方式	标志点/特征/手动

 

***工业型

 

型号	XTOM-ET-I	XTOM-ET-II	XTOM-ET-III
测量幅面(mm)	200*150/400*300	200*150/400*300	800*600
相机像素	2*230w	2*500w	2*500w
测量精度(mm)	0.02/0.025	0.01/0.015	0.03
采样点距(mm)	0.1/0.2	0.08/0.15	0.3
标准测距(mm)	450/850	450/850	1600
扫描时间(s)	2~8
扫描光源	蓝/白
拼接方式	标志点/特征/手动

备注：***工业型CCD支持升级600万/900万，支持依据客户需求定制。