TSI-2

 基本性能

 测量对象

  样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性

 输出数据

  频率、距离、振幅、位相、亮度、图像数据

 解析模式

  点・范围解析、位相解析

 其它配件

  温度调制加热器、控制解析软件、PC

 测量环境

 温度

  RT∼250[℃]

 测量频率

  0.1∼10[Hz]

 红外照相机

 元件数量

  336×256

 元件的种类

  VOx Microbolometer

 像素

  17[μm]

 观察波长范围

  7.5∼13.5[μm]

 帧延迟

  30[Hz]

 分辨率

  About 30[μm]

 半导体激光

（连续振荡）

 波长

  808[nm]

 输出功率

  5[W]

 正弦波调制

  0.1∼30[Hz]

 平台可动范围

 水平（XY轴） 方向

  ±15[mm]

 垂直（Z轴） 方向

  +50[mm]

 电源

  AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz]

 使用环境

 温度

  20～30(℃)

 湿度

  20～80(%)

 保管环境

 温度

  0～50(℃)

 湿度

  20～80(%)

 设备本体

 外形尺寸

  W552 × D602 × H657[mm]

 重量

  76.5[kg]

 激光安全标准

  CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007