品牌：其他

型号：ST2253

加工定制：是

类型：数字式电阻测量仪表

测量范围：电阻率：10的-4次方～10的5次方Ω-cm方块电阻： 10-3～106Ω/□电 阻：10-4（MΩ）

电　源：

测试电压：

精度：

重复误差：

环境温度：

相对湿度：

校准周期：

重量：

尺　寸：

规格：

产品介绍

ST2253软件测试界面

        ST2253测试报告

二、概述

    2.1基本功能和依据标准：

   ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。

2.2 仪器成套组成：由ST2253四探针主机、选配的四探针探头、四探针测试台以及ST2253型四探针测试软件等部分组成。

2.3优势特征：

1) 带电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。荣获***专利权作品，专利号：软著登字第号

2) USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！

3) 8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。

4) 可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。

5) 操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码开关输入，简便可靠而且免除模拟电位器式的不稳定易受干扰。

2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》

1) 配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

2) 配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。

3) 配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

4) 换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。

2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表

四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。

二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.

平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。

2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、基本技术参数

3.1  测量范围

电  阻：1×10^-4～2×10⁵ Ω   ，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω

电阻率：1×10^-4～2×10⁵ Ω-cm，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω-cm

方  阻：5×10^-4～1×10⁶ Ω/□，分辨率：5×10^-5～1×10² Ω/□

3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直    径：SZT-B/C/F测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.

长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

测量方位: 轴向、径向均可

3.3 量程划分及误差等级

满度显示	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00
测试电流	0.1μA	1.0μA	10μA	100μA	1.0mA	10mA	100mA	1.0A
常规量程	kΩ-cm/□	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□
基本误差	±2%FSB ±4LSB	±1.5%FSB ±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±1.0%FSB ±4LSB

3.4 四探针探头（选配其一或加配全部）

(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调

(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调

3.5. 电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<20W

3.6.外形尺寸、重量：

主   机： 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）， 净   重：≤2.5kg

四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站

查看《ST2253型数字式四探针测试仪技术使用说明书》

五、客服热线：400-635-7098    QQ:51丁先生