产品详情

晶格 SZT-H1型金属质量电阻率测试台

  • ¥2,000.00元/个
  • 供应总量:500台
  • 产品名称:晶格 SZT-H1型金属质量电阻率测试台
  • 产品品牌:JG/晶格
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评价

基本信息

品牌:其他

型号:SZT-H1

加工定制:否

类型:数字式电阻测量仪表

测量范围:测量膜宽:1mm≤B(宽)≤50mm

电 源:

测试电压:

精度:

重复误差:

环境温度:

相对湿度:

校准周期:

重量:

尺 寸:

规格:

详细说明

产品介绍

SZT-H1.jpg

   基本功能:SZT-H1型金属质量电阻率测试台配以四探针仪器构成成套测试系统,是运用四端子测量原理的***测量金属箔类(质量)电阻率/方阻的多用途综合测量装置。(以下简称测试台)

   基本组成:测试台测试电极组、升降台、支架、连接线缆等部件组成。

   配套与兼容本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器。本测试台可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。

   优势特征SZT-H1质量电阻率测试台符合国标《GB/T 5230-1995》中对金属箔类质量电阻率测试要求,测试电极采用铜质刀架制成,故定位准确、游移率小、接触良好;测试结果由数字表头直接显示。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、测量简便等特点。

   仪器适用于金属薄膜材料厂、半导体薄膜材料厂、橡塑材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对半导体或金属薄膜材料的方阻、电阻率性能的测试。特别适用于要求快速测量中低方阻及要求结果分选的场合。


使用方法

   ST2258A型多功能数字式方阻测试仪能够测量普通电阻器的电阻(修正系数1.000)和半导体、导体薄膜的方块电阻,(需调整不同的修正系数)。


1. 操作概述

 

 (1) 测试准备:

 

  电源开关置于断开位置,将电源插头插入电源插座。对于金属箔类样品、非金属薄膜样品,将SZT-H1测试台的测试插头与主机的输入插座连接起来,参照国标《GB/T 5230-1995》中,制备测试时样品,长=150mm,宽W=25mm; 对于电阻测量,用四端子测量线作输入线。调节室内温度使之达到要求的测试条件。将电源开关置于开启位置,数字显示窗亮。如图

1544085354235980.jpg


(2) 参数设定:

 

  仪器开机默认状态为“设定” 模式,ST2258A面板示意图,窗口左侧“设定”模式灯亮,通过键盘输入需要的修正系数。仪器默认修正系数F=1.000,即电阻测量方式可直接切换到“测量”模式而不需设定修正系数。否则需要输入需要的修正系数,如需要分选功能的输入各分选界限值,不需分选功能,不输入各分选界限值不影响测试,显示分选结果无意思。

1544085425760664.jpg


(3)测量:(金属箔类样品)

 

  设定完毕,切换仪器到“测量”模式。窗口左侧“测量”模式灯亮,按照标准制取样品,长度330mm,宽25mm.      

 

    将SZT-H1测试台顶端快速扳手向上向后打到底,抬起测试电极组。将样品平展置于测试台底板上,注意,样品长轴方向与电极刀刃方向垂直,样品宽度在刀刃长度范围之内。向前向下压下快速扳手,压下测试电极组,保持电极刀口与样品适当压力,良好接触,由数字显示窗直接读出测量值和分选结果。

 

  注意:刀刃对样品的压力调整方式是,调节测试台后侧导轨支架中部螺杆上的螺母(先松开,然后锁紧螺帽),观察电极上方导向螺杆伸出程度,一般以1cm左右为宜,压力调好后,锁紧锁紧螺帽。

111.jpg

测试压力调整螺母示意图


注意:

 

  1 测试台底板、测试电极及样品要保持清洁,以免接触不良和漏电影响测试准确性。

 

  2 对于测试前期样品有预处理要求的,如清洗,烘干,需要样品盒一起进行的,不得接触对电极材料有腐蚀性的清洗剂,烘烤温度不得高于150℃,对于因高温引起电极表面氧化严重的,可能影响测试导通的,要用细沙纸轻檫表面以清除表面氧化层。


技术参数(ST2258A型多功能数字式四探针测试仪)

1.1 测量范围、分辨率

 图片1.png图片2.png

图1-1A(测试台膜宽与方阻测量范围)  图1-1B(测试台截面与电阻率测量范围)



(1)方阻测试范围*(以配SZT-H1测试台为例)

测量膜宽:1mm≤B(宽)≤50mm

基本方阻测量值: 1.0×10-6~ 1.2×103 Ω/□, 分辨率:1.0×10-7~ 1.0×100Ω/□。

具体膜宽w与测量范围关系见图1-1A。


(2)电阻率测试范围(以配SZT-H1测试台为例)

(厚度d<10mm,宽w<50mm) 

基本电阻率测量值: 1.0×10-6~ 1.2×103 Ω*cm, 分辨率:1.0×10-7~ 1.0×100 Ω*cm。

具体截面s与测量范围关系见图1-1B。

1.2 SZT-H1测试刀架 

⑴电压刀片间距:20mm±0.2% ,刀刃长60mm 

⑵电流刀片间距: 70mm,刀刃长60mm

⑶测试台架外型尺寸:260×200×260(长×宽×高) 

 

三、详情请登陆苏州晶格电子有限公司

官方网站

网址.jpg

阿里巴巴诚信通网址

网址阿里.jpg

慧聪网买卖通商铺

网站慧聪.jpg

查看《SZT-H1金属质量电阻率测试台技术使用说明书》


四、联系方式://(传真)  QQ:18 丁先生

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主营产品:四探针测试仪,电阻率测试仪,方块电阻测试仪,粉末电阻率测试仪,土壤电阻率测试仪

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