品牌：其他

型号：XCLD-520

加工定制：否

类型：激光粒度仪

测量范围：0.1-600um

测量准确度：1%

测量重复性：0.5%

测量时间：60s

陶瓷粉体激光粒度分析仪/陶瓷颗粒粒径分析仪/粉料粒度检测仪

陶瓷粉体的检测在许多方面取决于初始粉体的功用，烧结活性大大提高，陶瓷粉体的物理化学性质将抉择陶瓷材料结束的显微结构和格外功用。激光粒度仪颗粒粒度检验恰当重要，组成粉体的固体颗粒其粒径大小对粉系统统的性质有很大的影响。因而粉体质量是制备高功用陶瓷材料的基础，而在材料科学与工程技能研究的三要素之间的联络中。通常选用细磨粉体经不相同方法成型制品。

在陶瓷生产中,陶瓷原料和坯釉料的细度及颗粒分布直接影响着许多工艺性能和理化性能,例如泥料的可塑性、浆料的稠化度、坯体的致密性、强度、釉的乳浊性等都与颗粒组成有密切关系。目前大多数陶瓷厂都用万孔筛筛余量表示原料或坯釉料的细度,这固然能对原料或坯釉料进行生产性控制,但这仅是一个上限，还不知道下限即通过筛网后的颗粒大小及比例又各是多少，若仅用细度来控制生产，不能保证产品质量,因此***进行颗粒分布的测定。测定颗粒分布的方法很多,目前已经采用比较多且有效的是激光衍射法（陶瓷粉体激光粒度分析仪XCLD-520）。

应用激光粒度分析仪XCLD-520提高特种陶瓷产品的质量问题, 提出了一组较优化的粒度及其分布情况的控制指标,确定了较为合理的原料研磨时间。 

陶瓷粉体的粒度是一项重要的指标，粒度及其分布状况与原料的加工时间、坯体的致密度大小、烧成温度的高低等有关，对产品的质量和性能起着重要的作用。因此，在各类粉体的加工与应用领域有重要意义。

陶瓷原料球磨加工时间的长短，不仅决定粉料的细度及粒度的分布情况，而且影响生产能耗、成本、效率等。因此测试分析研磨后的颗粒分布情况，可合理地设置球磨加工的料球比和球磨时间等，从而达到既保证产品质量、又降低成本。

陶瓷粉体激光粒度分析仪XCLD-520的粒径测试范围：0.1-600um，也可以选择更大量程的型号XCLD-620C，粒度范围：0.1-2000um，适合更多的产品测试。