TEST系列多功能推拉力测试机，是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的动态测试仪器；具有测试快、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、航空航天、汽车电子等。同时也大量用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

TEST4000采用德国精密传感技术，四轴运动平台，传动部件，确保机台高速、长久稳定运行。X轴和Y轴行程标配80毫米(max200毫米)，运动时max速度2毫米/秒。Z轴行程标配80毫米(max100毫米)，运动时max速度7毫米/秒。优异的可操控性，保护措施，稳定耐用的LED照明光源、左右摇杆可自由摆放手感舒适。弧线形显微镜调节机构配置的三目显微镜供客户随意调节，配CCD可在显示屏上观看测试全称；TEST4000软件V2.0设计简单，操作简单，全部中文显示(出口支持英文)。

TEST4000测试模块均采用自主研发的ICT智能兼容技术：不同主机之间可互换测试模块，且不损耗精度，保证了同一测试模块在不同主机上工作时测试数据的可靠性、以及一致性。测试方式均采用VPT垂直定位技术和VTT垂直牵引技术；传感器采用精密动态传感器技术，24Bit动态采集系统确保测试数据的稳定性和可靠性。