弹片测试座和探针测试座哪种更好呢?下面一起来了解下吧。

一、什么是探针?探针有那些常用种类?

探针是电测试的接触媒介，为***精密型电子五金元器件。

IC芯片老化、测试、烧录主要用到种类，探针的主要参数。

1.高频探针(CoaxialProbes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

2.高电流探针(HighCurrentProbes)

探针直径在二点五四mm-.四点七五mm之间.大的测试电流可达39amps.

3.半导体探针(SemiconductorProbes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ωacteristic

四.探针的主要参数：

引脚数量、间距(mm)、使用高低温度、IC频率

探针在测试座里的使用状况：有四个接触点，摩擦点多，高低温下容易变形，镀金范围广。核心技术掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。

二、什么是弹片?

弹片是电测试的接触媒介，为精密型电子五金元器件，比探针工艺简单，使用性能比探针好。

弹片在测试座里的使用状况：有二个接触点，没有摩擦点，高低温下不会变形，镀金范围小。核心技术掌握在鸿怡电子手中，弹性好，不会出现偏移，没有磨损，寿命长。

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